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发表于 2017-5-8 09:26:31 |只看该作者 |倒序浏览
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题名Roles of conducting filament and non-filament regions in the Ta2O5 and HfO2 resistive switching memory for switching reliability
链接http://pubs.rsc.org/en/Content/ArticleLanding/2017/CP/C7CP01461A#!divAbstract

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沙发
发表于 2017-5-8 09:26:32 |只看该作者
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