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| 题名 | Three-Dimensional Safe Operating Area based Short-Circuit Failure Modes Investigation and Classification for High-Power IGBT Modules | | 作者 | Yuxiang Chen, Wuhua Li , Member, IEEE, Francesco Iannuzzo, Senior Member, IEEE, Haoze Luo , Xiangning He, Fellow, IEEE, and Frede Blaabjerg, Fellow, IEEE | | 链接 | http://ieeexplore.ieee.org/abstract/document/7878673/ |
帮忙从ieee下载，不要sci-hub上下载的 |
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sample2007007 查看完整内容
https://pan.baidu.com/s/1yHUhi0zOZ-kNsWfNEZzLZw
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发表于 2018-5-18 12:08:14
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发表于 2018-5-18 12:08:15
