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[成功] Ion‐induced topography, depth resolution, and ion yield

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发表于 2014-4-29 21:43:06 |只看该作者 |倒序浏览

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题名	Ion‐induced topography, depth resolution, and ion yield during secondary ion mass spectrometry depth profiling of a GaAs/AlGaAs superlattice: Effects of sample rotation
作者	Eun‐Hee Cirlin, John J. Vajo, Robert E. Doty and T. C. Hasenberg
杂志	J. Vac. Sci. Technol. A
年\|卷\|期	(1991) 9
页码	1395
链接	http://scitation.aip.org/content/avs/journal/jvsta/9/3/10.1116/1.577634

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沙发

发表于 2014-4-29 21:43:07 |只看该作者

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