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[成功] Quantitative calibration and germanium SIMS depth profiling

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发表于 2014-9-12 17:38:54 |只看该作者 |倒序浏览

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题名	Quantitative calibration and germanium SIMS depth profiling in Ge x Si1 − x /Si heterostructures
作者	M. N. Drozdov, Yu. N. Drozdov, A. V. Novikov, P. A. Yunin, D. V. Yurasov
杂志	Semiconductors
年\|卷\|期	2014, Volume 48, Issue 8
页码	pp 1109-1117
链接	http://link.springer.com/article/10.1134%2FS1063782614080090

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沙发

发表于 2014-9-12 17:38:55 |只看该作者

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