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发表于 2014-2-11 22:17:29 |只看该作者 |倒序浏览

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题名	A new method for the determination of the diffusion-induced concentration profile and the interdiffusion coefficient for thin film systems by Auger electron spectroscopical sputter depth profiling
作者	J.Y. Wang and E.J. Mittemeijer
杂志	Journal of Materials Research
年\|卷\|期	Volume 19 / Issue 11 / 2004
页码	pp 3389-3397
链接	http://journals.cambridge.org/action/displayAbstract?fromPage=online&aid=8029800

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gyrowheel 查看完整内容

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沙发

发表于 2014-2-11 22:17:30 |只看该作者

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发表于 2014-2-11 22:18:13 |只看该作者

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