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[成功] Electrical Characterization

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发表于 2013-10-28 11:46:12 |只看该作者 |倒序浏览

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题名	Electrical Characterization and Dielectric Properties of Metal–Oxide–Semiconductor Structures Using High-κ CeZrO4 Ternary Oxide as Gate Dielectric
作者	P.-C.Juan et.al
杂志	Jpn. J. Appl. Phys
年\|卷\|期	48 (2009)
页码	05DA02
链接	http://jjap.jsap.jp/journal/JJAP-48-5S1.html

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fenglin520 查看完整内容

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沙发

发表于 2013-10-28 11:46:13 |只看该作者

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发表于 2013-10-28 11:47:42 |只看该作者

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