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题名 | Comparative Analysis of Nano-Scale Structural and Electrical Properties in AlGaN/GaN High Electron Mobility Transistors on SiC and Sapphire Substrates | 作者 | Wang, Cong; Cho, Sung-Jin; Kim, Nam-Young | 杂志 | Journal of Nanoscience and Nanotechnology | 年|卷|期 | Volume 13, Number 10, October 2013, | 页码 | pp. 7083-7088(6) | 链接 | http://dx.doi.org/10.1166/jnn.2013.7631 |
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