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[成功] Latchup-Like Failure of Power-Rail ESD Clamp Circuits in CMOS Integrated Circ...

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发表于 2019-5-9 14:18:35 |只看该作者 |倒序浏览

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题名	Latchup-Like Failure of Power-Rail ESD Clamp Circuits in CMOS Integrated Circuits Under System-Level ESD Test
链接	https://ieeexplore.ieee.org/document/4305743

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http://xzai.atwebpages.com/?dl=6a4977796352c59691da9164b4c9dc77

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沙发

发表于 2019-5-9 14:18:36 |只看该作者

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发表于 2019-5-9 14:36:24 |只看该作者

文件 ker2007.pdf 打不开, 请帮忙看看

感谢.

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发表于 2019-5-9 14:46:24 |只看该作者

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