科研速递论坛

标题: Quantitative calibration and germanium SIMS depth profiling [打印本页]

作者: Anthea14 时间: 2014-9-12 17:38
标题: Quantitative calibration and germanium SIMS depth profiling

题名	Quantitative calibration and germanium SIMS depth profiling in Ge x Si1 − x /Si heterostructures
作者	M. N. Drozdov, Yu. N. Drozdov, A. V. Novikov, P. A. Yunin, D. V. Yurasov
杂志	Semiconductors
年\|卷\|期	2014, Volume 48, Issue 8
页码	pp 1109-1117
链接	http://link.springer.com/article/10.1134%2FS1063782614080090

作者: cuiwq456 时间: 2014-9-12 17:38
提示: 作者被禁止或删除内容自动屏蔽

作者: cuiwq456 时间: 2014-9-12 17:39
提示: 作者被禁止或删除内容自动屏蔽

欢迎光临科研速递论坛 (http://www.expaper.cn/)