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标题: IEEE+Device and Materials Reliability, [打印本页]

作者: 一斤不醉 时间: 2012-11-25 15:38
标题: IEEE+Device and Materials Reliability,

题名】： Reliability based strength/fatigue design criteria
【作者】： Yunhan Huang; Vasan, A.S.S.; Doraiswami, R.; Osterman, M.; Pecht, M.
【杂志名全称】： Device and Materials Reliability, IEEE Transactions on
【年，卷(期)，起止页码】： Volume: 12 , Issue: 2 ,Publication Year: 2012 , Page(s): 482 - 493
【全文链接】：http://ieeexplore.ieee.org/xpl/t ... 435%29&pageNumber=2

作者: ljrlove2008 时间: 2012-11-25 15:39
题目是：
MEMS Reliability Review

下载地址：
http://good.gd/2318847.htm

作者: ljrlove2008 时间: 2012-11-25 15:40
111

作者: 一斤不醉 时间: 2012-11-25 17:21

ljrlove2008 发表于 2012-11-25 15:46
题目是：
MEMS Reliability Review

谢谢版主，题目搞错了、

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