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标题: Quantification of secondary-ion-mass spectroscopy depth profiles using maximu... [打印本页]

作者: Anthea14 时间: 2014-2-25 11:32
标题: Quantification of secondary-ion-mass spectroscopy depth profiles using maximu...

题名	Quantification of secondary-ion-mass spectroscopy depth profiles using maximum entropy deconvolution with a sample independent response function
作者	M. G. Dowsett and D. P. Chu
杂志	J. Vac. Sci. Technol. B
年\|卷\|期	16(1998)
页码	377
链接	http://scitation.aip.org/content/avs/journal/jvstb/16/1/10.1116/1.589814

作者: wwjjdd 时间: 2014-2-25 11:32
http://1000eb.com/u2vh

作者: smart505 时间: 2014-2-25 11:33
本帖最后由 smart505 于 2014-2-25 11:37 编辑

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作者: wwjjdd 时间: 2014-2-25 11:52
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