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标题: Electrical Characterization [打印本页]

作者: qiren 时间: 2013-10-28 11:46
标题: Electrical Characterization

题名	Electrical Characterization and Dielectric Properties of Metal–Oxide–Semiconductor Structures Using High-κ CeZrO4 Ternary Oxide as Gate Dielectric
作者	P.-C.Juan et.al
杂志	Jpn. J. Appl. Phys
年\|卷\|期	48 (2009)
页码	05DA02
链接	http://jjap.jsap.jp/journal/JJAP-48-5S1.html

作者: fenglin520 时间: 2013-10-28 11:46
http://1000eb.com/qka9

作者: fenglin520 时间: 2013-10-28 11:47
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