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标题: Latchup-Like Failure of Power-Rail ESD Clamp Circuits in CMOS Integrated Circ... [打印本页]

作者: skycloud 时间: 2019-5-9 14:18
标题: Latchup-Like Failure of Power-Rail ESD Clamp Circuits in CMOS Integrated Circ...

题名	Latchup-Like Failure of Power-Rail ESD Clamp Circuits in CMOS Integrated Circuits Under System-Level ESD Test
链接	https://ieeexplore.ieee.org/document/4305743

作者: vip 时间: 2019-5-9 14:18
http://xzai.atwebpages.com/?dl=6a4977796352c59691da9164b4c9dc77

作者: skycloud 时间: 2019-5-9 14:36
文件 ker2007.pdf 打不开, 请帮忙看看

感谢.

作者: skycloud 时间: 2019-5-9 14:46
已OK.

感谢.

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